1. Açık Erişim@BUU
  2. Bursa Uludağ Üniversitesi Tezleri / Bursa Uludag University Thesis
  3. Fen Bilimleri Enstitüsü / Institute of Science
  4. Fen Bilimleri Yüksek Lisans Tezleri / Master Degree
Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/11452/5074
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorTütüncüoğlu, Ergür-
dc.contributor.authorÖzak, Sevim-
dc.date.accessioned2020-01-06T05:44:18Z-
dc.date.available2020-01-06T05:44:18Z-
dc.date.issued1987-09-14-
dc.identifier.citationÖzak, S. (1987). Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması. Yayınlanmamış yüksek lisans tezi. Uludağ Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü.tr_TR
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11452/5074-
dc.description.abstractBu tezde gerçekleştirilen otomatik lojik entegre devre test cihazı, tipik bir software örneğidir. Çalışmalarımız sırasında çok kullandığımız lojik entegre devrelerin test edilmesi amaçlanmış olup, cihaz halen kütüphanesinde bulunan elemanları büyük bir doğrulukla test edebilmektedir. Test işlemleri, lojik seviyeleri kullanılarak yapılmaktadır.tr_TR
dc.description.abstractThe logic integrated circuit designed in this thesis is a typical sample of software. In the study we aimed to test common types of integrated circuits which are capable of testing the components quite accurately. Test steps are realised by using logic signal levels.en_US
dc.format.extentVII, 84 sayfatr_TR
dc.language.isotrtr_TR
dc.publisherUludağ Üniversitesitr_TR
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.rightsAtıf 4.0 Uluslararasıtr_TR
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/*
dc.subjectMikroişlemcitr_TR
dc.subjectMicroprocessoren_US
dc.subjectOtomatik test sistemtr_TR
dc.subjectAutomatic test systemen_US
dc.titleÇeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanmasıtr_TR
dc.title.alternativeDesigning microprocessor controlled automatic test system for testing various electronic systems and preparing microprocessor programsen_US
dc.typemasterThesisen_US
dc.relation.publicationcategoryTeztr_TR
dc.contributor.departmentUludağ Üniversitesi/Fen Bilimleri Enstitüsü/Elektronik Anabilim Dalı.tr_TR
Appears in Collections:Fen Bilimleri Yüksek Lisans Tezleri / Master Degree

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
002074.pdf
  Until 2099-12-31		2.77 MBAdobe PDFView/Open Request a copy
Show simple item record


This item is licensed under a Creative Commons License Creative Commons